Equipment

材料合成 Synthesis

超純水製造装置
(Ultrapure Water Production)
Merck
Milli-Q Direct

各種電気炉
(Furnaces and Ovens)

雰囲気炉 (NH3ガス仕様) (Atmosphere Furnace (NH3 gas))
Nihon-tokusyukikai
VF-11-601A

高速昇温電気炉 スーパーバーン
(SUPERBURN)
MOTOYAMA
S6-2025D

小型真空雰囲気炉
(Vacuum Furnace)
FULL-TECH
FT-01VAC-50
卓上型ロータリーキルン真空雰囲気炉
(Vacuum Rotary Kiln)
FULL-TECH
FT-02VAC-50RK

空冷卓上型ランプ加熱装置
(Mini Lamp Annealer)
ADVANCE RIKO
MILA-700AR

小形超遠心機
(Ultracentrifuge)
Hitachi
CS-GX II

卓上多本架遠心機
(Centrifuge)
TOMY SEIKO
LC-200

Freeze Dryer
Yamato Scientific
DC400

スピンコーター
(Spin Coater)
KYOWARIKEN
K-359 S-1

ディップコーター
(Dip Coater)
Aiden
DC4200

溶媒濃縮システム
(Rotary Evaporator)
TOKYO RIKAKIKAI
UT-2000, NVP-2100V, SE-1000, SSB-1000

クーロン/アンペアアワーメータ
(Coulomb/Ampere Hour Meter)
HOKUTO DENKO
HF-301

遊星型ボールミル
(Planetary Micro Mill)
FRITSCH
P-7 classic line

DLP方式 光造形3Dプリンター
(DLP SLA 3D Printer)
ANYCUBIC
Photon D2

LCD方式 光造形3Dプリンター
(LCD SLA 3D Printer)
ANYCUBIC
Photon Mono SE

コンパクトスパッタ装置
(Desk Top Quick Sputter)
Sanyu Electron
SC-701MkII

グローブボックス
(Glove Box)
MBRAUN
MB 150B-G

超音波ホモジナイザー
(Ultrasonic Homogenizer)
Sonics + Materials
VC-505
材料評価・機能評価 Characterization

卓上型X線回折装置
(X-Ray Diffraction)
Bruker
D2 PHASER

X線回折装置
(X-Ray Diffraction)
Bruker
D8 ADVANCE

X線回折測定雰囲気チャンバー
(XRD chamber)
Anton Paar
TTK 450 (−193~450 °C)
HTK 16 (25~1500 °C)
(大気、不活性雰囲気、真空)

多軸薄膜X線回折装置
(X-Ray Diffraction)
Philips
X’Pert MRD
自作温調ステージ (−25~40 °C)

エネルギー分散型蛍光X線分析装置
(Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectroscopy)
SHIMADZU Corporation
EDX-7200

X線光電子分光装置
(X-ray Photoelectron Spectroscopy)
SHIMADZU Corporation
ESCA-3400
分光蛍光光度計
(Spectrofluorometer)
JASCO Corporation
FP-8600
(980 nm LASER equipped)

紫外可視分光光度計
(Ultraviolet-Visible Spectroscopy)
JASCO Corporation
V-750

紫外可視近赤外分光光度計
(Ultraviolet-Visible-Near Infrared Spectroscopy)
JASCO Corporation
V-670

空冷ペルチェセルホルダー
(Peltier Thermostatted Cell Holder)
JASCO Corporation
EHCS-760 (10~60 °C)

薄膜ホルダー
(Film Holder)
JASCO Corporation
FLH-741

ミクロセルホルダー
(Micro Cell Holder)
JASCO Corporation
EMC-709

フローセルホルダー
(Flow Cell Holder)
JASCO Corporation
SFC-712

積分球ユニット
(Integrating Sphere Unit)
JASCO Corporation
ISN-923

自動絶対反射率測定ユニット
(Absolute Reflectance Measurement Unit)
JASCO Corporation
ARMN-735

フーリエ変換赤外分光光度計
(Fourier Transform Infrared Spectroscopy)
JASCO Corporation
FT/IR-4200
(in-situ measurement)

フーリエ変換赤外分光光度計
(Fourier Transform Infrared Spectroscopy)
JASCO Corporation
FT/IR-4100

フーリエ変換近中赤外分光光度計
(Fourier Transform Infrared/Near Infrared Spectroscopy)
JASCO Corporation
FT/IR-4X

1回反射ATR (ダイヤモンド)
(Attenuated Total Reflectance)
JASCO Corporation
ATR PRO410-S

拡散反射測定装置
(Diffuse Reflectance)
JASCO Corporation
DR PRO410-M

高感度反射測定装置
(Infrared-Reflection Absorption)
JASCO Corporation
RAS PRO410-H

ゼータ電位・粒径測定システム
(Zeta Potential/Dynamic Light Scattering)
Otsuka Electronics
ELS-Z

色彩色差計
(Color Difference Meter)
KONICA MINOLTA
CR-400D

電気化学測定システム
(Potentiostat)
HOKUTO DENKO
HZ-7000

電気化学測定システム
((Potentiostat)
Bio-Logic
SP-300

回転電極システム
(Rotating Disk Electrode)
Bio-Logic
BluRev RDE

水晶振動子マイクロバランス
(Quartz Crystal Microbalance)
SEIKO EG&G
QCM922A

水晶振動子マイクロバランス
(Quartz Crystal Microbalance)
Initium
AFFINIX QN

高精度ガス/蒸気吸着量測定装置
(Surface Area/Pore Size Distribution Analyzer)
MicrotracBEL
BELSORP MAX

比表面積・細孔分布測定装置
(Surface Area/Pore Size Distribution Analyzer)
MicrotracBEL
BELSORP MINI

前処理装置
(Vacuum Degasser)
MicrotracBEL
BELPREP VAC II

熱重量示差熱分析装置
(Thermogravimetry Differential Thermal Analysis)
Mac Science
TG-DTA2000S

昇温脱離ガス分析
(Thermal Desorption Spectrometry)
JEOL
MS-60020BU

高速液体クロマトグラフ
(High Performance Liquid Chromatography)
島津製作所
SPD-10AVvp, LC-10ADvp, CTO-10ASvp

ナノ粒子マルチアナライザー
(Tunable Resistive Pulse Sensing)
Meiwafosis
qNano

光触媒用閉鎖循環反応システム
(Photocatalytic Reaction)
幕張理化学硝子製作所

光触媒用流通反応システム
(Photocatalytic Reaction)
SHIMADZU Corporation
GC-2010Plus

原子間力顕微鏡
(Atomic Force Microscopy)
Digital Instruments
Dimension 3100

原子間力顕微鏡
(Atomic Force Microscopy)
Digital Instruments
MMAFM-2

磁気特性測定システム
(Superconducting Quantum Interference Device)
Quantum Design
MPMS3

磁気特性測定システム
(Superconducting Quantum Interference Device)
Quantum Design
MPMS-5S
共用機器 Shared equipment

小角X線散乱測定装置
(Small Angle X-ray Scattering)
Rigaku
Nano Viewer

核磁気共鳴装置
(Nuclear Magnetic Resonance)
Varian
400MR, 500, 600PS

電界放出型走査電子顕微鏡
(Field-Emission Scanning Electron Microscopy)
Hitachi High-Tech Corporation
S-4800

電界放出型走査電子顕微鏡
(Field-Emission Scanning Electron Microscopy)
Hitachi High-Tech Corporation
S-5200

透過型電子顕微鏡
(Transmission Electron Microscopy)
JEOL
JEM-2010

レーザーイオン化飛行時間型質量分析装置
(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time of Flight Mass Spectrometry)
SHIMADZU Corporation
MALDI-8020

熱重量示差熱分析-質量分析計
(Thermogravimetry Differential Thermal Analysis Mass Spectrometry)
NETZSCH, JEOL
STA 449, JMS-Q1500GC