Skip to content 材料合成 Synthesis
超純水製造装置
(Ultrapure Water Production),
Merck, Milli-Q Direct
各種電気炉
(Furnaces and Ovens)
雰囲気炉 (NH3ガス仕様)
(Atmosphere Furnace (NH3 gas)),
Nihon-tokusyukikai,
VF-11-601A高速昇温電気炉 スーパーバーン
(SUPERBURN),
MOTOYAMA,
S6-2025D
小型真空雰囲気炉
(Vacuum Furnace),
FULL-TECH,
FT-01VAC-50
卓上型ロータリーキルン真空雰囲気炉
(Vacuum Rotary Kiln),
FULL-TECH,
FT-02VAC-50RK
空冷卓上型ランプ加熱装置
(Mini Lamp Annealer),
ADVANCE RIKO,
MILA-700AR小形超遠心機 (Ultracentrifuge), Hitachi, CS-GX II
卓上多本架遠心機 (Centrifuge), TOMY SEIKO, LC-200凍結乾燥機 (Freeze Dryer), Yamato Scientific, DC400
溶媒濃縮システム (Rotary Evaporator), TOKYO RIKAKIKAI, UT-2000, NVP-2100V, SE-1000, SSB-1000
クーロン/アンペアアワーメータ (Coulomb/Ampere Hour Meter), HOKUTO DENKO, HF-301
遊星型ボールミル (Planetary Micro Mill), FRITSCH, P-7 classic line
DLP方式 光造形3Dプリンター (DLP SLA 3D Printer), ANYCUBIC, Photon D2LCD方式 光造形3Dプリンター (LCD SLA 3D Printer), ANYCUBIC, Photon Mono SE
コンパクトスパッタ装置 (Desk Top Quick Sputter), Sanyu Electron, SC-701MkIIグローブボックス+ガス精製装置 (Glove Box + Gas purifier), MBRAUN, MB 150B-G + MB 200-G超音波ホモジナイザー (Ultrasonic Homogenizer), Sonics + Materials, VC-505スピンコーター (Spin Coater), KYOWARIKEN, K-359 S-1
ディップコーター (Dip Coater), Aiden, DC4200材料評価・機能評価 Characterization
卓上型X線回折装置 (X-Ray Diffraction), Bruker, D2 PHASERX線回折装置 (X-Ray Diffraction), Bruker, D8 ADVANCEX線回折測定雰囲気チャンバー (XRD chamber), Anton Paar, TTK 450 (−193~450 °C), HTK 16 (25~1500 °C)
多軸薄膜X線回折装置 (X-Ray Diffraction), Philips, X’Pert MRD, 自作温調ステージ (−25~40 °C)エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置 (Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectroscopy), SHIMADZU, EDX-7200X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy), SHIMADZU, ESCA-3400分光蛍光光度計 (Spectrofluorometer), JASCO, FP-8600 (980 nm LASER equipped)
紫外可視分光光度計 (Ultraviolet-Visible Spectroscopy), JASCO, V-750
紫外可視近赤外分光光度計 (Ultraviolet-Visible-Near Infrared Spectroscopy), JASCO, V-670空冷ペルチェセルホルダー (Peltier Thermostatted Cell Holder), JASCO, EHCS-760 (10~60 °C)薄膜ホルダー (Film Holder), JASCO, FLH-741ミクロセルホルダー (Micro Cell Holder), JASCO, EMC-709積分球ユニット (Integrating Sphere Unit), JASCO, ISN-923フローセルホルダー (Flow Cell Holder), JASCO, SFC-712
自動絶対反射率測定ユニット (Absolute Reflectance Measurement Unit), JASCO, ARMN-735
色彩色差計 (Color Difference Meter), KONICA MINOLTA, CR-400Dフーリエ変換赤外分光光度計 (Fourier Transform Infrared Spectroscopy), JASCO, FT/IR-4100
フーリエ変換近中赤外分光光度計 (Fourier Transform Infrared/Near Infrared Spectroscopy), JASCO, FT/IR-4Xフーリエ変換赤外分光光度計 (Fourier Transform Infrared Spectroscopy), JASCO, FT/IR-4200 (in-situ measurement)高感度反射測定装置 (Infrared-Reflection Absorption), JASCO, RAS PRO410-H1回反射ATR (ダイヤモンド) (Attenuated Total Reflectance), JASCO, ATR PRO410-S拡散反射測定装置 (Diffuse Reflectance), JASCO, DR PRO410-M
ゼータ電位・粒径測定システム (Zeta Potential/Dynamic Light Scattering), Otsuka Electronics, ELS-Z
ナノ粒子マルチアナライザー (Tunable Resistive Pulse Sensing), Meiwafosis, qNano
電気化学測定システム ((Potentiostat), Bio-Logic, SP-300電気化学測定システム (Potentiostat), HOKUTO DENKO, HZ-7000
回転電極システム (Rotating Disk Electrode), Bio-Logic, BluRev RDE
水晶振動子マイクロバランス (Quartz Crystal Microbalance), SEIKO EG&G, QCM922A水晶振動子マイクロバランス (Quartz Crystal Microbalance), Initium, AFFINIX QN
高精度ガス/蒸気吸着量測定装置 (Surface Area/Pore Size Distribution Analyzer), MicrotracBEL, BELSORP MAX
比表面積･細孔分布測定装置 (Surface Area/Pore Size Distribution Analyzer), MicrotracBEL, BELSORP MINI
前処理装置 (Vacuum Degasser), MicrotracBEL, BELPREP VAC II熱重量示差熱分析装置 (Thermogravimetry Differential Thermal Analysis), Mac Science, TG-DTA2000S昇温脱離ガス分析 (Thermal Desorption Spectrometry), JEOL, MS-60020BU光触媒用流通反応システム (Photocatalytic Reaction), SHIMADZU, GC-2010Plus光触媒用閉鎖循環反応システム (Photocatalytic Reaction), 幕張理化学硝子製作所
高速液体クロマトグラフ (High Performance Liquid Chromatography), SHIMADZU, SPD-10AVvp, LC-10ADvp, CTO-10ASvp
オンラインガス分析計 (Quadrupole Mass Spectrometer), MicrotracBEL, BELMASS II
原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscopy), Digital Instruments, MMAFM-2
原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscopy), Digital Instruments, Dimension 3100磁気特性測定システム (Superconducting Quantum Interference Device), Quantum Design, MPMS-5S
磁気特性測定システム (Superconducting Quantum Interference Device), Quantum Design, MPMS3共用機器 Shared equipments
電界放出型走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscopy), Hitachi High-Tech, S-4800
核磁気共鳴装置 (Nuclear Magnetic Resonance), Varian, 400MR, 500, 600PS
熱重量示差熱分析-質量分析計 (Thermogravimetry Differential Thermal Analysis Mass Spectrometry), NETZSCH, JEOL, STA 449, JMS-Q1500GC小角Ｘ線散乱測定装置 (Small Angle X-ray Scattering), Rigaku, Nano Viewer
透過型電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscopy), JEOL, JEM-2010
電界放出型走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscopy), Hitachi High-Tech, S-5200
レーザーイオン化飛行時間型質量分析装置 (Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time of Flight Mass Spectrometry), SHIMADZU, MALDI-8020 
超純水製造装置
(Ultrapure Water Production),
Merck, Milli-Q Direct
各種電気炉
(Furnaces and Ovens)
雰囲気炉 (NH3ガス仕様)
(Atmosphere Furnace (NH3 gas)),
Nihon-tokusyukikai,
VF-11-601A
高速昇温電気炉 スーパーバーン
(SUPERBURN),
MOTOYAMA,
S6-2025D
小型真空雰囲気炉
(Vacuum Furnace),
FULL-TECH,
FT-01VAC-50
卓上型ロータリーキルン真空雰囲気炉
(Vacuum Rotary Kiln),
FULL-TECH,
FT-02VAC-50RK
空冷卓上型ランプ加熱装置
(Mini Lamp Annealer),
ADVANCE RIKO,
MILA-700AR
小形超遠心機 (Ultracentrifuge), Hitachi, CS-GX II
卓上多本架遠心機 (Centrifuge), TOMY SEIKO, LC-200
凍結乾燥機 (Freeze Dryer), Yamato Scientific, DC400
溶媒濃縮システム (Rotary Evaporator), TOKYO RIKAKIKAI, UT-2000, NVP-2100V, SE-1000, SSB-1000
クーロン/アンペアアワーメータ (Coulomb/Ampere Hour Meter), HOKUTO DENKO, HF-301
遊星型ボールミル (Planetary Micro Mill), FRITSCH, P-7 classic line
DLP方式 光造形3Dプリンター (DLP SLA 3D Printer), ANYCUBIC, Photon D2
LCD方式 光造形3Dプリンター (LCD SLA 3D Printer), ANYCUBIC, Photon Mono SE
コンパクトスパッタ装置 (Desk Top Quick Sputter), Sanyu Electron, SC-701MkII
グローブボックス+ガス精製装置 (Glove Box + Gas purifier), MBRAUN, MB 150B-G + MB 200-G
超音波ホモジナイザー (Ultrasonic Homogenizer), Sonics + Materials, VC-505
スピンコーター (Spin Coater), KYOWARIKEN, K-359 S-1
ディップコーター (Dip Coater), Aiden, DC4200
卓上型X線回折装置 (X-Ray Diffraction), Bruker, D2 PHASER
X線回折装置 (X-Ray Diffraction), Bruker, D8 ADVANCE
X線回折測定雰囲気チャンバー (XRD chamber), Anton Paar, TTK 450 (−193~450 °C), HTK 16 (25~1500 °C)
多軸薄膜X線回折装置 (X-Ray Diffraction), Philips, X’Pert MRD, 自作温調ステージ (−25~40 °C)
エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置 (Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectroscopy), SHIMADZU, EDX-7200
X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy), SHIMADZU, ESCA-3400
分光蛍光光度計 (Spectrofluorometer), JASCO, FP-8600 (980 nm LASER equipped)
紫外可視分光光度計 (Ultraviolet-Visible Spectroscopy), JASCO, V-750
紫外可視近赤外分光光度計 (Ultraviolet-Visible-Near Infrared Spectroscopy), JASCO, V-670
空冷ペルチェセルホルダー (Peltier Thermostatted Cell Holder), JASCO, EHCS-760 (10~60 °C)
薄膜ホルダー (Film Holder), JASCO, FLH-741
ミクロセルホルダー (Micro Cell Holder), JASCO, EMC-709
積分球ユニット (Integrating Sphere Unit), JASCO, ISN-923
フローセルホルダー (Flow Cell Holder), JASCO, SFC-712
自動絶対反射率測定ユニット (Absolute Reflectance Measurement Unit), JASCO, ARMN-735
色彩色差計 (Color Difference Meter), KONICA MINOLTA, CR-400D
フーリエ変換赤外分光光度計 (Fourier Transform Infrared Spectroscopy), JASCO, FT/IR-4100
フーリエ変換近中赤外分光光度計 (Fourier Transform Infrared/Near Infrared Spectroscopy), JASCO, FT/IR-4X
フーリエ変換赤外分光光度計 (Fourier Transform Infrared Spectroscopy), JASCO, FT/IR-4200 (in-situ measurement)
高感度反射測定装置 (Infrared-Reflection Absorption), JASCO, RAS PRO410-H
1回反射ATR (ダイヤモンド) (Attenuated Total Reflectance), JASCO, ATR PRO410-S
拡散反射測定装置 (Diffuse Reflectance), JASCO, DR PRO410-M
ゼータ電位・粒径測定システム (Zeta Potential/Dynamic Light Scattering), Otsuka Electronics, ELS-Z
ナノ粒子マルチアナライザー (Tunable Resistive Pulse Sensing), Meiwafosis, qNano
電気化学測定システム ((Potentiostat), Bio-Logic, SP-300
電気化学測定システム (Potentiostat), HOKUTO DENKO, HZ-7000
回転電極システム (Rotating Disk Electrode), Bio-Logic, BluRev RDE
水晶振動子マイクロバランス (Quartz Crystal Microbalance), SEIKO EG&G, QCM922A
水晶振動子マイクロバランス (Quartz Crystal Microbalance), Initium, AFFINIX QN
高精度ガス/蒸気吸着量測定装置 (Surface Area/Pore Size Distribution Analyzer), MicrotracBEL, BELSORP MAX
比表面積･細孔分布測定装置 (Surface Area/Pore Size Distribution Analyzer), MicrotracBEL, BELSORP MINI
前処理装置 (Vacuum Degasser), MicrotracBEL, BELPREP VAC II
熱重量示差熱分析装置 (Thermogravimetry Differential Thermal Analysis), Mac Science, TG-DTA2000S
昇温脱離ガス分析 (Thermal Desorption Spectrometry), JEOL, MS-60020BU
光触媒用流通反応システム (Photocatalytic Reaction), SHIMADZU, GC-2010Plus
光触媒用閉鎖循環反応システム (Photocatalytic Reaction), 幕張理化学硝子製作所
高速液体クロマトグラフ (High Performance Liquid Chromatography), SHIMADZU, SPD-10AVvp, LC-10ADvp, CTO-10ASvp
オンラインガス分析計 (Quadrupole Mass Spectrometer), MicrotracBEL, BELMASS II
原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscopy), Digital Instruments, MMAFM-2
原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscopy), Digital Instruments, Dimension 3100
磁気特性測定システム (Superconducting Quantum Interference Device), Quantum Design, MPMS-5S
磁気特性測定システム (Superconducting Quantum Interference Device), Quantum Design, MPMS3
電界放出型走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscopy), Hitachi High-Tech, S-4800
核磁気共鳴装置 (Nuclear Magnetic Resonance), Varian, 400MR, 500, 600PS
熱重量示差熱分析-質量分析計 (Thermogravimetry Differential Thermal Analysis Mass Spectrometry), NETZSCH, JEOL, STA 449, JMS-Q1500GC
小角Ｘ線散乱測定装置 (Small Angle X-ray Scattering), Rigaku, Nano Viewer
透過型電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscopy), JEOL, JEM-2010
電界放出型走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscopy), Hitachi High-Tech, S-5200
レーザーイオン化飛行時間型質量分析装置 (Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time of Flight Mass Spectrometry), SHIMADZU, MALDI-8020